气溶胶粒子质量分析仪（ APM- Ⅱ）是根据作用于气溶胶粒子上的离心力和静电场力相平衡的原理，进行粒子质量分级的装置。在进行纳米级颗粒物分布状况分析时，通常进行粒径分布的测量。而 DMA （微分迁移率分析仪）进行颗粒物粒径大小时，利用的是静电引力，而 APM 对颗粒的分级采用了全新的分级原理。

【特点】
-- 桌面台式设计、轻量级测量单元 .
--APM- Ⅱ可对 0.001 至 1000 毫微微克的气溶胶粒子进行分级 .
--通过和 DMA 配合使用，可以实现粒子密度分布的测量 .